ZKD-III真空度短路器測試儀
ZKD-III真空度短路器測試儀經(jīng)過嚴(yán)格電真空工藝處理的真空滅弧室,影響真空度的主要因素為工作表面的放氣與吸氣過程。隨著工作時(shí)間的增長,滅弧室的微漏氣也會(huì)導(dǎo)致其真空度下降。:
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更新日期
2015-11-02 - 02
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家 - 03
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